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keithleyS500型集成測(cè)試系統(tǒng) S500 Integrated Test Systems are highly configurable, instrument-based systems for semiconductor characterization at the device, wafer, or cassette level.
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keithley2790-HL型雙模塊系統(tǒng)， 2790數(shù)字源表開關(guān)系統(tǒng)為用戶提供了一個(gè)高壓、多通道電阻測(cè)量解決方案，能夠快速、簡(jiǎn)潔地實(shí)現(xiàn)安全氣囊充氣機(jī)的電氣檢查以及其他汽車電子測(cè)試等應(yīng)用。
