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chroma 3360-D VLSI 測試系統(tǒng)，主要特色：50 MHz 測試頻率32/64 個(gè) I/O 通道8M (標(biāo)準(zhǔn)) /16M (選購) Pattern 記憶體彈性化硬體結(jié)構(gòu)平行測試 : 多 8 DUTsReal Parallel Trim/Match 功能時(shí)序頻率測試單位
chroma 3650 SoC 測試系統(tǒng)，主要特色：50/100MHz測試工作頻率512個(gè) I/O 通道(I/O Channel)16M (32M Max.) Pattern 記憶體(Pattern Memory)Per-Pin 彈性資源架構(gòu)32 DUTS 平行測試功能ADC/DAC
chroma 3772 光伏芯片化學(xué)、制程上下貨系統(tǒng) 主要特色：破片率： 0.1%產(chǎn)量： 2400 pcs/hr上貨載具：Cassette下貨載具：Cassette
chroma 8900 電氣產(chǎn)品自動(dòng)測試系統(tǒng)，主要特色：開放式架構(gòu)的測試軟件硬件具可擴(kuò)充性測試鏈接庫可自由編輯測試程序可自由編輯測試項(xiàng)目可自由編輯統(tǒng)計(jì)報(bào)表使用者授權(quán)機(jī)制測試紀(jì)錄支持條形碼掃描
chroma 5104 高速 LED 燈管線上量測系統(tǒng)，主要特色：每日超過一萬支燈管測試產(chǎn)能支援各類燈管之量測支援JEL801燈管場型量測支援閃頻量測
chroma 58173-FC LED自動(dòng)測試系統(tǒng)，主要特色：提供*電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試Chroma大面積光偵測器(量測角度可達(dá)148度)半自動(dòng)精密LED wafer/chip點(diǎn)測設(shè)備特殊無鉆孔真空平臺(tái)設(shè)計(jì)特制Edge Sensor具有點(diǎn)測針壓穩(wěn)定
chroma 58154 ESD 測試系統(tǒng)，主要特色：提供兩種ESD 測試標(biāo)準(zhǔn) : Human body model and Machine model用戶自定項(xiàng)目: Interval, cycle and polarity are programmable高分辨率 : 5V per-step for Machine model
chroma 58182 Top-view 測試系統(tǒng)，主要特色：可量測白光或 RGB LED Top-view Light Bar 之光均勻性搭載自動(dòng)影像辨識(shí)功能杰出之光學(xué)量測表現(xiàn)成功篩檢 ESD 損傷之 LED Light bar可接取 FPC/PCB Light Bar 之平臺(tái)
