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R&SFSV7信號(hào)分析儀R&S®FSV是一款速度zui快、功能zui豐富的信號(hào)和頻譜分析儀，專門為從事射頻系統(tǒng)研發(fā)、生產(chǎn)、安裝、服務(wù)的注重性能和成本節(jié)約的用戶而打造。主要特點(diǎn)：?頻率范圍高達(dá)3.6GHz、7GHz、13.6GHz、30GHz或40GHz?40MHz分析帶寬?7GHz以下電平測(cè)量不確定度僅有0.4dB?可適用于GSM/EDGE（包含EDGEEvolution）、WCDMA/HSPA+、LTE、WiMAX™、WLAN、CDMA2000®...

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Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B精度指標(biāo)主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...

Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B操作說(shuō)明主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...

Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B規(guī)格范圍主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...

Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B說(shuō)明書主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有磁...

Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B選件配置主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...

Agilent81625B大功率光探頭Agilent81625B二手價(jià)格主要特性與技術(shù)指標(biāo)主要性能技術(shù)指標(biāo).低PDL不確定度：±0.002dB.低頻譜紋波不確定度：±0.002dB.功率探頭模塊、光探頭、回波損耗模塊技術(shù)資料特定的校準(zhǔn)選件.使用特定校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±1.5%.使用PTB校準(zhǔn)時(shí)，不確定度為±0.8%描述Agilent光功率探頭專為探測(cè)低PDL、低頻譜波動(dòng)以及高回波損耗而設(shè)計(jì)，適用于光元器件測(cè)試。該探頭配有...