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簡(jiǎn)要描述:KEYSIGHT E4990A 高性能臺(tái)式阻抗分析儀,20Hz-120MHz寬頻,高精度測(cè)量,內(nèi)置直流偏置,適配多領(lǐng)域阻抗測(cè)試需求。
產(chǎn)品分類
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| 品牌 | KEYSIGHT/美國是德 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池,電氣,綜合 |
寬頻可升級(jí)設(shè)計(jì):頻率范圍覆蓋20Hz至120MHz,提供5種可升級(jí)頻率選件(20Hz至10/20/30/50/120MHz),可根據(jù)測(cè)試需求靈活選擇,支持后期頻率升級(jí),降低前期投入成本,適配不同場(chǎng)景的測(cè)試需求。
高精度測(cè)量能力:采用自動(dòng)平衡電橋法測(cè)量,基本阻抗測(cè)量精度達(dá)±0.08%,典型值可達(dá)±0.045%,阻抗測(cè)量范圍為25mΩ至40MΩ(10%測(cè)量精度條件下),能精準(zhǔn)捕捉阻抗參數(shù)的細(xì)微變化,保障測(cè)量數(shù)據(jù)的可靠性。
豐富測(cè)量參數(shù)與功能:支持多種阻抗相關(guān)參數(shù)測(cè)量,包括|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q等,同時(shí)可測(cè)量Vac、Iac、Vdc、Idc等電平參數(shù);具備等效電路分析、極限線測(cè)試功能,等效電路分析支持7種不同多參數(shù)模型,助力器件特性深度分析。
內(nèi)置直流偏置電源:內(nèi)置0V至±40V、0A至±100mA直流偏置電源,分辨率達(dá)1mV/40μA,可滿足半導(dǎo)體元器件等需要直流偏置條件下的阻抗測(cè)試需求,簡(jiǎn)化測(cè)試環(huán)境搭建。
便捷操作與顯示:配備10.4英寸TFT彩色LCD觸摸屏,支持4通道4跡線同時(shí)顯示,可同步查看不同測(cè)試條件下的參數(shù);前面板設(shè)有硬鍵與功能鍵,搭配上下文相關(guān)嵌入式幫助系統(tǒng),操作便捷,降低使用門檻。
靈活接口與擴(kuò)展能力:配備USB、LAN、USBTMC、GPIB等多種接口,支持遠(yuǎn)程控制與數(shù)據(jù)傳輸;支持多種測(cè)試附件,可通過42942A終端適配器、42941A阻抗探頭等擴(kuò)展測(cè)量功能,適配接地器件等特殊測(cè)試場(chǎng)景。
產(chǎn)品型號(hào):E4990A
儀器類型:高性能臺(tái)式阻抗分析儀
測(cè)量方法:自動(dòng)平衡電橋法
頻率范圍:20Hz至10/20/30/50/120MHz(5種可升級(jí)選件,對(duì)應(yīng)選件010/020/030/050/120)
基本阻抗精度:±0.08%(典型值±0.045%)
阻抗測(cè)量范圍:25mΩ至40MΩ(10%測(cè)量精度條件下)
測(cè)量參數(shù):|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q、Complex Z、Complex Y、Vac、Iac、Vdc、Idc
直流偏置:0V至±40V,0A至±100mA,分辨率1mV/40μA
信號(hào)電平:電壓5mVrms至1Vrms(1mV分辨率),電流200μArms至20mArms(20μA分辨率),支持自動(dòng)電平控制(ALC)
顯示與操作:10.4英寸TFT彩色LCD觸摸屏,4通道4跡線顯示,每條跡線10個(gè)獨(dú)立游標(biāo)
接口規(guī)格:前面板2個(gè)USB端口、后面板4個(gè)USB端口、LAN(10/100/1000 base-T以太網(wǎng))、USBTMC、GPIB、24位I/O
可選配置:增強(qiáng)測(cè)量速度選件(001,僅適用于10M/20M/30M/50M頻率選件)、42942A終端適配器、42941A阻抗探頭、N1500A材料測(cè)量軟件
標(biāo)配附件:1臺(tái)E4990A阻抗分析儀、1年KeysightCare標(biāo)準(zhǔn)支持、標(biāo)準(zhǔn)數(shù)據(jù)存儲(chǔ)、用戶手冊(cè)及編程手冊(cè)
無源元器件測(cè)試場(chǎng)景:用于電容器、電感器、鐵氧體磁珠、電阻、變壓器、晶體/陶瓷諧振器等無源元器件的阻抗測(cè)量,可精準(zhǔn)表征器件的頻率響應(yīng)、自諧振頻率等特性,輔助研發(fā)與質(zhì)控。
半導(dǎo)體元器件測(cè)試場(chǎng)景:適用于變?nèi)荻O管的C-V特征分析,以及二極管、晶體管、放大器、MEMS等半導(dǎo)體器件的阻抗評(píng)測(cè),可在直流偏置條件下完成器件特性測(cè)試,滿足半導(dǎo)體研發(fā)與生產(chǎn)需求。
材料測(cè)量場(chǎng)景:搭配專用夾具與N1500A軟件,可完成塑料、陶瓷、印刷電路板等介電材料,以及鐵氧體、非晶體等磁性材料的介電常數(shù)、損耗因數(shù)、導(dǎo)磁率等參數(shù)測(cè)量,適配材料研發(fā)與驗(yàn)證。
實(shí)驗(yàn)室研發(fā)驗(yàn)證場(chǎng)景:作為實(shí)驗(yàn)室常規(guī)阻抗測(cè)量設(shè)備,適配電子元器件、材料、半導(dǎo)體等領(lǐng)域的研發(fā)測(cè)試,可完成參數(shù)調(diào)試、特性分析、設(shè)計(jì)驗(yàn)證等工作,支持多參數(shù)、多條件同步測(cè)試。
產(chǎn)線質(zhì)控與檢驗(yàn)場(chǎng)景:集成于產(chǎn)線測(cè)試系統(tǒng),用于元器件、半導(dǎo)體器件的批量質(zhì)量檢測(cè),具備快速測(cè)量能力,可通過極限線測(cè)試功能快速判斷產(chǎn)品是否合格,保障出廠產(chǎn)品質(zhì)量一致性。
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