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簡要描述:圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源是專為光通信研發(fā)與測試設(shè)計(jì)的高精度可調(diào)諧激光光源,由美佳特科技供應(yīng)。其覆蓋 1480-1640nm C+L 波段,具備 ±1pm 超高波長精度與 ±0.01dB 功率穩(wěn)定性,支持 100nm/s 高速掃描模式。設(shè)備集成低偏振相關(guān)損耗(PDL<0.05dB)與內(nèi)置波長校準(zhǔn)功能,無需額外校準(zhǔn)工具,操作便捷。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
| 品牌 | Santec/日本 | 產(chǎn)地類別 | 進(jìn)口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源
1. 品牌簡介
寬波段覆蓋:精準(zhǔn)覆蓋 1480-1640nm C+L 波段,無需更換設(shè)備即可滿足光通信領(lǐng)域多波段測試需求,適配主流光通信系統(tǒng)測試場景。
超高精度與穩(wěn)定性:±1pm 波長精度確保波長輸出精準(zhǔn),避免波長偏差影響測試數(shù)據(jù);±0.01dB 功率穩(wěn)定性,保障長時(shí)間測試中功率輸出平穩(wěn),提升測試結(jié)果準(zhǔn)確性。
高速掃描能力:支持 100nm/s 高速掃描模式,相比普通設(shè)備大幅縮短掃描時(shí)間,尤其適合批量測試或高效研發(fā)場景,提升整體工作效率。
低偏振相關(guān)損耗:集成低 PDL 設(shè)計(jì)(PDL<0.05dB),減少偏振變化對激光輸出的影響,確保在不同偏振狀態(tài)下測試結(jié)果的一致性。
內(nèi)置波長校準(zhǔn):自帶波長校準(zhǔn)功能,無需額外搭配校準(zhǔn)設(shè)備,簡化操作流程,降低使用門檻,同時(shí)保障長期使用中的波長精度,減少維護(hù)成本。
便捷服務(wù)支持:通過美佳特科技可獲取 TSL510 手冊、中文說明書,便于快速熟悉設(shè)備操作;同時(shí)提供價(jià)格咨詢服務(wù),為采購決策提供清晰參考。
光通信研發(fā)場景:適用于光通信模塊、光傳輸系統(tǒng)的研發(fā)過程,可提供精準(zhǔn)穩(wěn)定的激光光源,助力研發(fā)人員開展波長特性、功率傳輸?shù)刃阅軠y試,加速研發(fā)進(jìn)度。
DWDM 測試場景:在密集波分復(fù)用(DWDM)系統(tǒng)測試中,能夠覆蓋多波段波長,支持高速掃描,可高效完成 DWDM 系統(tǒng)的信道測試、插損測試等,保障系統(tǒng)傳輸質(zhì)量。
光器件表征場景:用于光耦合器、光濾波器、光開關(guān)等光器件的性能表征,憑借超高波長精度與低 PDL,精準(zhǔn)測量器件的波長響應(yīng)、偏振相關(guān)特性等關(guān)鍵參數(shù),為器件質(zhì)量把控提供依據(jù)。
硅光芯片測試場景:適配硅光芯片的研發(fā)與生產(chǎn)測試,硅光芯片對激光精度要求較高,Santec TSL510 的 ±1pm 波長精度與穩(wěn)定功率輸出,可滿足硅光芯片的光性能測試需求,助力硅光技術(shù)產(chǎn)業(yè)化。
實(shí)驗(yàn)室精密測試場景:科研實(shí)驗(yàn)室開展光學(xué)相關(guān)研究時(shí),需要高精度、高穩(wěn)定的激光光源,Santec TSL510 可作為核心測試設(shè)備,支持各類精密光學(xué)實(shí)驗(yàn),為科研數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性提供保障。
生產(chǎn)產(chǎn)線質(zhì)檢場景:在光通信設(shè)備、光器件的生產(chǎn)產(chǎn)線中,可作為質(zhì)檢設(shè)備,對產(chǎn)品進(jìn)行批量性能測試,高速掃描功能提升質(zhì)檢效率,高精度特性確保質(zhì)檢結(jié)果可靠,幫助企業(yè)把控產(chǎn)品出廠質(zhì)量。
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