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當(dāng)前位置：首頁 > 產(chǎn)品展示 > 光通訊測試設(shè)備 > 點光源 > 圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源
簡要描述：圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源是專為光通信研發(fā)與測試設(shè)計的高精度可調(diào)諧激光光源，由美佳特科技供應(yīng)。其覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，具備 ±1pm 超高波長精度與 ±0.01dB 功率穩(wěn)定性，支持 100nm/s 高速掃描模式。設(shè)備集成低偏振相關(guān)損耗（PDL<0.05dB）與內(nèi)置波長校準(zhǔn)功能，無需額外校準(zhǔn)工具，操作便捷。
產(chǎn)品型號：TSL510廠商性質(zhì)：經(jīng)銷商更新時間：2026-01-12訪 問 量：203詳細(xì)介紹
| 品牌 | Santec/日本 | 產(chǎn)地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子/電池 |
圣德科Santec高精度可調(diào)諧激光光源
1. 品牌簡介
寬波段覆蓋：精準(zhǔn)覆蓋 1480-1640nm C+L 波段，無需更換設(shè)備即可滿足光通信領(lǐng)域多波段測試需求，適配主流光通信系統(tǒng)測試場景。
超高精度與穩(wěn)定性：±1pm 波長精度確保波長輸出精準(zhǔn)，避免波長偏差影響測試數(shù)據(jù)；±0.01dB 功率穩(wěn)定性，保障長時間測試中功率輸出平穩(wěn)，提升測試結(jié)果準(zhǔn)確性。
高速掃描能力：支持 100nm/s 高速掃描模式，相比普通設(shè)備大幅縮短掃描時間，尤其適合批量測試或高效研發(fā)場景，提升整體工作效率。
低偏振相關(guān)損耗：集成低 PDL 設(shè)計（PDL<0.05dB），減少偏振變化對激光輸出的影響，確保在不同偏振狀態(tài)下測試結(jié)果的一致性。
內(nèi)置波長校準(zhǔn)：自帶波長校準(zhǔn)功能，無需額外搭配校準(zhǔn)設(shè)備，簡化操作流程，降低使用門檻，同時保障長期使用中的波長精度，減少維護成本。
便捷服務(wù)支持：通過美佳特科技可獲取 TSL510 手冊、中文說明書，便于快速熟悉設(shè)備操作；同時提供價格咨詢服務(wù)，為采購決策提供清晰參考。
光通信研發(fā)場景：適用于光通信模塊、光傳輸系統(tǒng)的研發(fā)過程，可提供精準(zhǔn)穩(wěn)定的激光光源，助力研發(fā)人員開展波長特性、功率傳輸?shù)刃阅軠y試，加速研發(fā)進度。
DWDM 測試場景：在密集波分復(fù)用（DWDM）系統(tǒng)測試中，能夠覆蓋多波段波長，支持高速掃描，可高效完成 DWDM 系統(tǒng)的信道測試、插損測試等，保障系統(tǒng)傳輸質(zhì)量。
光器件表征場景：用于光耦合器、光濾波器、光開關(guān)等光器件的性能表征，憑借超高波長精度與低 PDL，精準(zhǔn)測量器件的波長響應(yīng)、偏振相關(guān)特性等關(guān)鍵參數(shù)，為器件質(zhì)量把控提供依據(jù)。
硅光芯片測試場景：適配硅光芯片的研發(fā)與生產(chǎn)測試，硅光芯片對激光精度要求較高，Santec TSL510 的 ±1pm 波長精度與穩(wěn)定功率輸出，可滿足硅光芯片的光性能測試需求，助力硅光技術(shù)產(chǎn)業(yè)化。
實驗室精密測試場景：科研實驗室開展光學(xué)相關(guān)研究時，需要高精度、高穩(wěn)定的激光光源，Santec TSL510 可作為核心測試設(shè)備，支持各類精密光學(xué)實驗，為科研數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性提供保障。
生產(chǎn)產(chǎn)線質(zhì)檢場景：在光通信設(shè)備、光器件的生產(chǎn)產(chǎn)線中，可作為質(zhì)檢設(shè)備，對產(chǎn)品進行批量性能測試，高速掃描功能提升質(zhì)檢效率，高精度特性確保質(zhì)檢結(jié)果可靠，幫助企業(yè)把控產(chǎn)品出廠質(zhì)量。
產(chǎn)品咨詢
