chroma D Series 繞線元件脈沖測(cè)試器

主要特色：使一直以來困難的低感量脈沖測(cè)試成為可能忠實(shí)的反應(yīng)實(shí)際測(cè)試峰值電壓及測(cè)試波形100MHz的高速取樣，大幅提高局部放電之檢出能力以波形之Laplacian(曲折率)數(shù)值處理技術(shù)分析判定局部放電強(qiáng)度，并以清晰之條圖顯示明了易懂8.4 彩色TFT LCD畫面，波形及各測(cè)試結(jié)果清楚呈現(xiàn)提供波形面積衰減比率及Laplacian數(shù)值處理比較判定等功能，可簡單檢測(cè)出繞線之自體絕緣不良絕緣崩潰電壓測(cè)試(D-05/10)可以Compact Flash Memory Card拷貝或擴(kuò)充內(nèi)存參考波形數(shù)據(jù)提供打印機(jī)接口，可簡單連接ESP打印機(jī)打印畫面引導(dǎo)式人機(jī)接口，操作容易可選EtherNet轉(zhuǎn)接接口連結(jié)局域網(wǎng)絡(luò)(LAN)由PC等進(jìn)行遙控輕巧設(shè)計(jì)，節(jié)省作業(yè)空間標(biāo)準(zhǔn)RS-232接口

一般繞線元件于生產(chǎn)檢驗(yàn)大多只檢驗(yàn)L、C、R、圈數(shù)、相位等低壓項(xiàng)目，高壓項(xiàng)目多只針對(duì)不同線圈間或線圈對(duì)鐵芯或金屬外殼之安規(guī)耐壓進(jìn)行測(cè)試，對(duì)于線圈之自體絕緣卻因無良好的檢驗(yàn)工具而無法檢驗(yàn)，而線圈之自體絕緣不良往往是造成線圈于高壓使用環(huán)境中形成層間短路、跨線短路、出腳短路之根源。其形成原因可能源于初始設(shè)計(jì)不良、加工制程不良，或絕緣材料之劣化等所引起。D系列即是應(yīng)提供線圈之自體絕緣狀態(tài)檢驗(yàn)之新設(shè)計(jì)之工具，利用一高壓充電之微小電容（測(cè)試能量低）與待測(cè)線圈形成RLC并連諧振，由諧振之衰減速度(AREA)及局部放電檢出(LAPLACIAN)，透過高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可*檢驗(yàn)出線圈之絕緣不良，測(cè)試簡單快速可靠。大尺寸彩色TFT LCD顯示，以及全數(shù)位設(shè)計(jì)，使D系列不僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場，更可應(yīng)用于研發(fā)，品保分析，可大幅改善繞線元件因自體絕緣造成之潛在不良，提高應(yīng)用產(chǎn)品之壽命及穩(wěn)定 。D-01 繞線元件脈沖測(cè)試器 1000V D-05 繞線元件脈沖測(cè)試器 5000V D-10 繞線元件脈沖測(cè)試器 10000V

深圳市美佳特科技有限公司（簡稱“美佳特"）成立于2010年，致力于光通訊測(cè)試、通用電子測(cè)量及5G測(cè)試服務(wù)。美佳特以“無線溝通，溝通無極限 "企業(yè)使命，業(yè)務(wù)聚焦于精密測(cè)試測(cè)量儀器的租賃、銷售、維護(hù)、計(jì)量及測(cè)試環(huán)境搭建等一站式服務(wù)。chroma D Series 繞線元件脈沖測(cè)試器

主營產(chǎn)品：示波器主機(jī)和模塊、眼圖儀、光譜儀、信號(hào)源、頻譜分析儀、網(wǎng)絡(luò)分析儀、阻抗分析儀、光通信儀器、誤碼儀、光時(shí)域反射儀、可調(diào)諧激光源、光功率計(jì)、光衰減器等。合作品牌：安捷倫、是德、泰克、安立、愛得萬、安騰、力科、馬可尼（IFR）、R&S、EXFO等。

主推：Agilent 86100D/C 示波器,keysight M8195A 任意波形發(fā)生器,Anritsu MS9740B/A 光譜分析儀,YOKOGAWA AQ6370D/E 光譜分析儀,keysight N1092A/C 采樣示波器,keysight E8257D 模擬信號(hào)發(fā)生器,keysight E5071C 矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀